3. Щелкните по имени второго потенциала, чтобы и его отправить тем же способом в строку Trace Expression.
4. Поставьте между двумя потенциалами в строке Trace Expression знак минуса, нажав соответствующую клавишу либо щелкнув по знаку "-" в правой части окна Add Traces (см. рис. 6.6).
5. Щелкните по кнопке OK.
Рецепт 3. Удалить диаграмму с экрана PROBE
1. Маркируйте диаграмму, которую следует удалить, щелкнув по ее имени в строке, расположенной в нижней части экрана PROBE.
2. Нажмите на клавишу Delete.
Рецепт 4. Вывести на экран PROBE вторую диаграмму, расположив ее над уже имеющейся
1. Выберите в меню Plot опцию Add Plot, чтобы вызвать на экран PROBE еще одну систему координат.
2. Откройте окно Add Traces и отправьте в строку Trace Expression имя диаграммы, которую следует отобразить в новой, только что созданной системе координат.
3. Подтвердите свой выбор щелчком по кнопке OK.
Рецепт 5. Запуск PROBE с установками последнего сеанса работы
1. Щелкните в меню Analysis по строке Probe Setup…. После этого откроется окно Probe Setup Options. Выберите на вкладке Probe Startup опции Restore Last Probe Session и Automatically Run Probe After Simulation (см. рис. 6.13).
2. Щелкните по кнопке OK.
Внимание! Если в ходе предварительной установки PROBE вы активизировали опцию Restore Last Probe Session, то эта настройка распространится и на все последующие варианты вашей схемы, в которые будут вноситься какие-либо изменения, поскольку вы сохраняете их под одним и тем же именем. Однако если вам потребуется смоделировать совсем другую схему, то, вполне возможно, настройки последнего сеанса работы в PROBE не будут соответствовать вашим новым задачам. В таких случаях на экране появляется сообщение об ошибке. Вывод: после того как вы завершили серию подобных анализов, деактивизируйте опцию Restore Last Probe Session, чтобы потом не создавать себе лишних хлопот.
Рецепт 6. Изменить масштаб изображения в PROBE
Увеличить фрагмент диаграммы:
1. Выберите в меню View опцию Area или щелкните по соответствующей этой команде кнопке
.
2. Установите курсор, принявший теперь форму креста, в левый верхний угол фрагмента диаграммы, который необходимо увеличить.
3. Удерживая клавишу мыши нажатой, переместите курсор в правый нижний угол выделяемого фрагмента.
4. Отпустите клавишу мыши.
Вернуть увеличенному фрагменту диаграммы прежний вид: выберите в меню View команду Fit или щелкните по соответствующей этой команде кнопке
.
Увеличение:
1. Команда View→In или щелчок по кнопке
.
2. Щелкнуть мышью по фрагменту, который следует увеличить.
Уменьшение:
1. Команда View→Out или щелчок по кнопке
.
2. Щелкнуть мышью по фрагменту, который следует уменьшить.
Рецепт 7. Активизировать курсор программы-осциллографа PROBE
Первый способ: выберите меню команду Tools→Cursor→Display.
Второй способ: щелкните по соответствующей этой команде кнопке
.
Рецепт 8. Закрепление курсоров за диаграммами, выведенными на экран
1. Закрепите сначала первый курсор за одной из диаграмм. Для этого выберите в левом нижнем углу окна PROBE символ нужной вам диаграммы и щелкните по нему левой клавишей мыши (см. рис. 6.22).
2. Затем подчините второй курсор этой же или другой диаграмме: щелкните правой клавишей мыши по символу нужной вам диаграммы, расположенному в левом нижнем углу окна PROBE (см. рис. 6.23).
3. Теперь вы сможете управлять первым курсором с помощью левой клавиши мыши, а вторым курсором - с помощью правой клавиши.
Если оба курсора подчинены одной и той же диаграмме, то соответствующий ей символ заключается в штрихованную рамку (см. рис. 6.22).
Внимание! Оба курсора имеют форму перекрестия пунктирных линий, но у первого пунктир более частый. Если вы подчинили курсоры разным диаграммам, то узнать, какой курсор к какой диаграмме относится, вы можете по символу перед именем диаграммы: рамка будет выполнена тем пунктиром, который закреплен за этой диаграммой (см. рис. 6.23).
Рецепт 9. Управление курсором и установка метки
Переместить курсор 1 из фактического положения вправо (влево) к ближайшему максимальному значению: нажмите клавишу → или ← и щелкните по кнопке
.
Переместить курсор 1 из фактического положения вправо (влево) к ближайшему минимальному значению: нажмите клавишу → или ← и щелкните по кнопке
.
Переместить курсор 1 из фактического положения вправо (влево) к ближайшей точке перегиба: нажмите клавишу → или ← и щелкните по кнопке
.
Переместить курсор 1 из фактического положения к абсолютному минимальному/максимальному значению: воспользуйтесь кнопкой
.
Переместить курсор 2 из фактического положения вправо (влево) к ближайшему максимальному/минимальному значению/ближайшей точке перегиба: нажмите и удерживайте клавишу Shift, дальше см. соответствующую процедуру для курсора 1.
Переместить курсор в следующую контрольную точку: щелкните по кнопке
.
Установить метку с координатами в месте расположения курсора: установите курсор и щелкните по кнопке, соответствующей команде Mark Label
.
Урок 7
Анализ цепи постоянного тока DC Sweep
В этом уроке рассказывается, как выполнять анализ цепи постоянного тока с различными изменяемыми переменными: источниками напряжения и постоянного тока, температурой компонентов, значениями сопротивления. Особое внимание уделено правилам проведения сдвоенного анализа.
Во втором уроке вы познакомились с обычным анализом цепи постоянного тока. При этом все конденсаторы рассматриваются как прерывания электрической цепи, все катушки индуктивности - как короткие замыкания. Нелинейные компоненты, например диоды или транзисторы, заменяются на их сопротивление постоянному току в рабочей точке. Созданная по такому принципу схема замещения содержит только одни активные сопротивления. Анализ цепи постоянного тока выявляет узловые потенциалы полученной схемы замещения.
В ходе анализа DC Sweep проводят целую серию простых анализов цепи постоянного тока, варьируя при этом с небольшими интервалами какую-нибудь одну величину схемы, например температуру или значение сопротивления определенного резистора. Программа PSPICE позволяет проводить анализ DC Sweep со следующими изменяемыми переменными:
• температура;
• параметры электрической цепи (например, сопротивления);
• источники напряжения;
• источники тока;
• модельные параметры.
Как видите, перед пользователем программы PSPICE открываются такие широкие возможности анализа схемы, какие не могли бы предложить даже прекрасно оснащенные лаборатории. Только вдумайтесь, какую экономию времени, сил и, разумеется, средств обещает перспектива провести, не отходя от компьютера и всего лишь за один сеанс работы, анализ рабочих характеристик транзисторной схемы в диапазоне температур от -70 °С до +150 °С. В прошлом инженерам-проектировщикам приходилось проводить целые серии дорогостоящих испытаний, чтобы выяснить, будет ли функционировать схема с транзисторами, у которых коэффициенты усиления по току имеют рассеяние больше, чем ±100%. Интерактивное моделирование проясняет такие вопросы с минимальными затратами.
Но и на этом возможности анализа цепи постоянного тока в PSPICE не исчерпываются. Одновременно с основным анализом (Main Sweep) можно также проводить так называемый "вложенный" (дополнительный) анализ (Nested Sweep) для еще одной изменяемой переменной. Это позволяет выводить на экран PROBE целые семейства кривых, например семейство выходных характеристик транзистора.